中化所检测

中化所检测CMA资质,第三方检测机构

联系中化所检测

400-601-8236

座机:010-8646-0567

报告问题解答:   010-86460567-8

邮编:100094

邮箱:bjfxcs@126.com

地址:北京市海淀区北清路103号2号楼

当前位置:主页 > 检测项目 > 检测标准 >  

GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法 第10部分:汞含量的测定 原子荧光光谱法

发布时间:2019-12-03

标准号:GB/T 14849.10-2016

  中文标准名称:工业硅化学分析方法 第10部分:汞含量的测定 原子荧光光谱法

  英文标准名称:Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 10:Determination of mercury content—Atomic fluorescence spectrometry method

  标准状态:现行

  中国标准分类号:(CCS)H12

  国际标准分类号:(ICS)77.120.10

  发布日期:2016-08-29

  实施日期:2017-07-01

  主管部门:中国有色金属工业协会

  归口单位:有色金属标准化技术委员会

  发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

主要起草单位

  昆明冶金研究院 、北京有色金属研究总院 、北京矿冶研究总院 、云南永昌硅业股份有限公司 、通标标准技术服务(天津)有限公司 、云南祥云飞龙再生科技股份有限公司 、云南出入境检验检疫局 、广州有色金属研究院 。

主要起草人

  刘英波 、罗舜 、杨毅 、陈殿耿 、王立 、唐飞 、杨琛 、段坤艳 、滕亚君 、周杰 、杨海岸 、赵德平 、刘维理 、陈映纯 、蒯丽君 、程堆强 、麦丽碧 。

相近标准(计划)

  20140936-T-610 工业硅化学分析方法 第10部分:汞含量的测定 原子荧光光谱法

  YS/T 872-2013 工业镓化学分析方法 汞含量的测定 原子荧光光谱法

  20082091-T-610 工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X射线荧光光谱法

  20121952-T-610 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

  GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

  20102234-T-610 钼化学分析方法 第6部分:砷量的测定 原子荧光光谱法

  20102237-T-610 钼化学分析方法 第5部分:锑量的测定 原子荧光光谱法

  20102241-T-610 钼化学分析方法 第4部分:锡量的测定 原子荧光光谱法

  20102219-T-610 钼化学分析方法 第3部分:铋量的测定 原子荧光光谱法

  GB/T 4325.4-2013 钼化学分析方法 第4部分:锡量的测定 原子荧光光谱法

本文地址: http://www.bjhgyjs.cn/jiancebiaozhun/3381.html
  • 北京
  • 天津
  • 山西
  • 太原
  • 内蒙
  • 呼和浩特
  • 辽宁
  • 沈阳
  • 吉林
  • 长春
  • 黑龙江
  • 哈尔滨
  • 上海
  • 江苏
  • 南京
  • 浙江
  • 杭州
  • 安徽
  • 合肥
  • 福建
  • 福州
  • 江西
  • 南昌
  • 山东
  • 济南
  • 河南
  • 郑州
  • 湖北
  • 武汉
  • 湖南
  • 长沙
  • 广东
  • 广州
  • 广西
  • 南宁
  • 海南
  • 海口
  • 重庆
  • 四川
  • 成都
  • 贵州
  • 贵阳
  • 云南
  • 昆明
  • 青岛
  • 保定
  • 苏州
  • 扬州
  • 宁波
  • 福州
  • 深圳
  • 乌鲁木齐
  • 兰州
  • 威海
  • 甘肃
京ICP备15067471号-33