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X射线断层扫描测量

时间:2020-12-17 11:17:55 文章来源:中化所 TAG: 点击::0

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  X射线断层扫描测量主要应用于非接触内外部无损三维几何尺寸测量、材料结构分析、缺陷检测、装配检查、逆向工程应用等。适用于塑料、橡胶、硅胶、纤维、轻金属等多种材料,面向几何计量、科研、注塑、铝压铸、电池、汽车、医疗器械、包装、电子消费品等行业领域。

内部缺陷定性定量分析

  1.测试并验证缺陷,填充不足、缺料、杂质、气泡等对产品可靠性造成严重影响的缺陷

  2.检测复杂电子元件内部结构、电子组装产品焊接质量、其它零部件内部结构

  3.检测玩具、塑料零部件、复合组装零部件等的界面结合或黏合情况

问题溯源

  1.快速分析产品内外部故障原因:损伤、破裂、不良、断裂等

  2.配合失效分析,可靠性分析中间样品无损检测分析

检测检测流程

  1、填写申请表:联系中化所工作人员确认检测标准,签订委托书;

  2、安排寄样:将样品快递或直接送至我司实验室 ;

  3、产品检测:实验室安排测试,出草稿报告;

  4、确认草稿报告,发正式报告。

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