磁环样品: 13.4*8.0*2 mm左右检测
1对1客服专属服务,免费制定检测方案,15分钟极速响应
发布时间:2025-03-04 04:44:02 更新时间:2025-03-15 21:38:33
点击:3
作者:中科光析科学技术研究所检测中心
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作者:中科光析科学技术研究所检测中心
针对您提供的13.4×8.0×2 mm磁环样品检测需求,我们将从尺寸精度、材料性能和电磁特性三个维度展开系统性检测。该规格磁环常见于高频电子设备、EMI滤波电路及功率转换器件中,其性能参数的精确控制直接影响设备运行稳定性。
采用数显卡尺(精度±0.01mm)与光学投影仪配合测量:
• 外径测量:沿圆周均布测量6个点,验证13.4±0.05mm公差
• 内径检测:使用三坐标测量仪确认8.0±0.1mm内孔圆度
• 厚度检验:分5区域测量2.0mm厚度,控制平面度误差≤0.03mm
通过HP-4284A LCR测试仪进行材料参数测定:
1. 初始磁导率μi:1kHz下测得值应≥3000
2. 饱和磁通密度Bs:直流磁化至1200A/m时≥450mT
3. 居里温度Tc:通过热磁分析仪确认≥210℃
4. 电阻率测试:四探针法测量值>5×10⁴Ω·cm
使用Agilent E5061B网络分析仪进行:
• 阻抗-频率曲线:50Hz-5MHz频段扫描检测
• 品质因数Q值:在1MHz下要求Q≥120
• 损耗角正切:100kHz时tanδ<0.02
• 谐波失真测试:施加80%Bs激励时的三次谐波含量
• 温度循环测试:-40℃↔+125℃ 100次循环后参数漂移<5%
• 湿热老化试验:85℃/85%RH环境500小时后外观检查
• 机械强度测试:轴向施加50N压力保持1分钟后的形变量
• 镀层附着力:百格法测试镍层结合强度(ASTM D3359标准)
建议同步提供样品应用场景及工作频率范围,以便定制化设置检测参数。完整检测周期约需3-5个工作日,检测报告将包含关键参数对比曲线及行业标准符合性声明。
证书编号:241520345370
证书编号:CNAS L22006
证书编号:ISO9001-2024001
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