电子元器件筛选_【CMA/CNAS认证】_中科光析科学技术研究所

电子元器件筛选技术

电子元器件筛选是通过一系列非破坏性或局部破坏性的物理试验及电测试，提前暴露元器件的潜在缺陷和早期失效，从而剔除存在固有工艺缺陷、材料问题或设计薄弱环节的不合格品，确保交付使用的元器件具有较高的可靠性水平。筛选是提高电子设备整机可靠性和稳定性的关键环节。

一、检测项目

电子元器件筛选项目通常分为常规筛选和附加筛选，需根据元器件类型、应用场景和可靠性要求进行选择和组合。

外观检查
- 目的： 检查元器件的外部质量，识别在制造、运输或存储过程中可能产生的物理损伤。
- 内容： 包括标记清晰度与耐久性、引脚或焊端的共面性、镀层质量（氧化、锈蚀、划伤）、封装完整性（裂纹、缺口、毛刺）、密封器件的封口质量等。
电参数测试
- 目的： 验证元器件的直流和交流电气特性是否符合设计规范。
- 内容：
  - 数字集成电路： 输入/输出高低电平电压/电流、静态电源电流、传输延迟时间、功能测试等。
  - 模拟集成电路： 输入失调电压/电流、共模抑制比、电源抑制比、增益、带宽、建立时间等。
  - 分立器件： 二极管正向压降、反向击穿电压；三极管的电流放大系数、饱和压降、开关时间；MOS器件的阈值电压、导通电阻等。
  - 无源元件： 电阻器的阻值及精度；电容器的容值、等效串联电阻、损耗角正切；电感器的感量、品质因数Q等。
老炼筛选
- 目的： 在施加电应力和热应力的条件下，加速暴露元器件的潜在缺陷，如表面污染、氧化层缺陷、金属互连弱点、键合不良等。
- 内容： 将元器件置于高温环境中（通常高于额定工作温度，如125℃），同时施加额定或略超额的电压、电流或功率，使其连续工作数十至数百小时。此过程能促使具有潜在缺陷的器件发生早期失效。
温度循环
- 目的： 考核元器件抵抗高低温交替变化的能力，揭示因不同材料热膨胀系数不匹配导致的失效。
- 内容： 使元器件在设定的高温（如+125℃）和低温（如-55℃）极限温度间进行多次循环转换，并在极限温度下保持一定时间。这种应力会诱发芯片开裂、键合点脱落、内引线断裂、密封失效等缺陷。
热冲击
- 目的： 与温度循环类似，但转换速率更快，应力更为严酷。
- 内容： 在极短时间内（通常小于10秒）将元器件在两个液体槽（如高温油和低温液体）或气体环境中进行高低温转换，对器件的机械结构完整性进行更严格的考核。
机械冲击
- 目的： 模拟元器件在运输、装卸或使用过程中可能遇到的剧烈冲击环境，检验其机械坚固性。
- 内容： 对元器件施加一个半正弦波、后峰锯齿波或梯形波的加速度脉冲，峰值加速度可达数百至数千个重力加速度，持续时间通常为毫秒级。
变频振动
- 目的： 暴露元器件在振动环境下因结构共振、微粒污染等引起的失效。
- 内容： 使元器件在一定的频率范围内（如20Hz至2000Hz）按对数或线性规律进行扫描振动。扫频振动能有效发现内部可动多余物、引线疲劳、芯片粘接不良等问题。
恒定加速度
- 目的： 对元器件施加一个恒定的高离心加速度，主要用于检验键合强度、芯片粘接强度、内部结构的机械完整性。
- 内容： 通常使用离心机，在多个方向上对元器件施加数万至数十万倍重力加速度的恒定应力。
密封性检查
- 目的： 针对气密封装元器件，检测其封装外壳是否存在漏孔，防止外部湿气和污染物侵入。
- 内容：
  - 细检漏： 通常采用氦质谱检漏法，检测较小的漏率。
  - 粗检漏： 采用氟油气泡法、放射性示踪气体法等，检测较大的漏率。
可焊性测试
- 目的： 评估元器件引脚或焊端在焊接工艺中与焊料形成良好连接的能力。
- 内容： 通常采用浸渍法或润湿平衡法，观察焊料在引线表面的铺展情况，判断是否存在氧化、污染导致的润湿不良。
X射线检查
- 目的： 无损检测元器件内部结构缺陷。
- 内容： 检查芯片粘接空洞、引线键合形状与位置（弧度、尾丝、短路）、内部多余物、封装腔体尺寸、焊球阵列器件的焊球共面性等。

二、检测范围

电子元器件筛选适用于各类有可靠性要求的电子元件和器件，主要包括：

集成电路： 微处理器、存储器、数字信号处理器、模拟开关、电源管理芯片、放大器等。
分立半导体器件： 二极管、晶体管、场效应管、晶闸管、光电器件等。
无源元件： 片式电阻/电容/电感、厚/薄膜电阻网络、铝电解电容器、钽电容器、陶瓷电容器、电感器、变压器、继电器、连接器等。
声表面波器件、晶体振荡器等。
微波元件与组件。

三、标准方法

电子元器件筛选遵循国内外一系列标准和规范，以确保筛选过程的一致性和有效性。

国际标准：
- IEC: IEC 60749系列（半导体器件机械和气候试验方法）、IEC 60068系列（环境试验）。
- JEDEC: JESD22系列（固态器件的可靠性试验方法）、JESD47（应力驱动可靠性试验）。
- MIL-STD: MIL-STD-883（微电子器件试验方法标准），尤其其中的Test Method 5008（筛选流程）在军工、航天领域被广泛引用。
国家标准/行业标准：
- GB/T: GB/T 4589.1、GB/T 4937系列（半导体器件机械和气候试验方法，等同采用IEC 60749）。
- GJB: GJB 548B（微电子器件试验方法和程序，等效于MIL-STD-883）、GJB 360B（电子及电气元件试验方法）、GJB 128A（半导体分立器件试验方法）。这些国军标是国内军工和高可靠性领域的重要依据。
- SJ/T: 一系列电子行业标准，规定了各类元器件的总规范和相关试验方法。

筛选流程的制定通常参考上述标准，并结合元器件的详细规范、用户可靠性要求以及历史经验数据进行剪裁。

四、检测仪器

电子元器件筛选依赖于一系列精密的检测和试验设备。

参数测试系统： 高度自动化的测试设备，能够根据预设程序快速、精确地测量元器件的各项直流和交流电参数。通常由精密电源、测量单元、开关矩阵和控制计算机组成。
高低温试验箱： 提供稳定的高温、低温或温度循环环境，用于老炼、温度循环等试验。具备精确的温控系统和快速变温能力。
老炼试验系统： 包含老炼板和配套的老炼箱。老炼板用于装载待测器件并施加电应力，老炼箱提供高温环境。系统能持续监控器件的工作状态。
热冲击试验箱： 具有两个独立温区（高温区和低温区），并能实现试样在两温区间的快速自动转换，用于进行热冲击试验。
机械冲击试验台： 产生和控制特定波形、峰值加速度和持续时间的冲击脉冲，用于机械冲击试验。
振动试验系统： 主要由振动控制器、功率放大器和振动台组成，能够产生并精确控制扫频振动、随机振动或定频振动。
离心加速度试验机： 通过高速旋转产生恒定的离心加速度，用于恒定加速度试验。
密封性检漏仪：
- 氦质谱检漏仪： 用于细检漏，通过检测氦气的泄漏率来判定密封性能。
- 粗检漏设备： 如氟油槽、加压浸渍装置等，用于粗检漏测试。
可焊性测试仪： 润湿平衡法测试仪可定量测量润湿力和润湿时间，浸渍法则通过视觉评估焊料铺展面积。
X射线实时成像系统： 利用X射线穿透样品，通过探测器成像，实现对元器件内部结构的无损检测和缺陷分析。
显微镜： 立体显微镜和高倍率光学显微镜，用于进行细致的外观检查和失效分析。