远近程开关衰减量检测
1对1客服专属服务,免费制定检测方案,15分钟极速响应
发布时间:2025-07-24 05:41:33 更新时间:2025-07-23 05:41:34
点击:0
作者:中科光析科学技术研究所检测中心
1对1客服专属服务,免费制定检测方案,15分钟极速响应
发布时间:2025-07-24 05:41:33 更新时间:2025-07-23 05:41:34
点击:0
作者:中科光析科学技术研究所检测中心
远近程开关(或称为高/低功率切换开关、功率衰减开关)是射频微波系统中一种关键的机电或固态开关组件,主要用于在信号链路中实现不同衰减路径的切换,以满足系统对信号电平远近程(高低功率)控制的需求。其核心性能指标之一便是“衰减量”,即信号在通过开关的衰减路径时,功率减小的程度(通常以分贝dB表示)。衰减量的准确性和稳定性直接关系到整个系统信号电平控制的精度、动态范围以及最终的性能表现。因此,对远近程开关的衰减量进行精确、可靠的检测,是确保通信、雷达、测试测量等设备正常工作的重要环节。
远近程开关衰减量检测的核心项目主要包括:
1. 标称衰减量: 在规定的频率点或频段内,开关在衰减路径(通常为“远程”或“高衰减”状态)下的设计衰减值。这是最基本的性能指标。
2. 衰减量平坦度: 在指定的工作频带范围内,衰减量随频率变化的波动程度。要求在整个工作频带内衰减量尽可能恒定。
3. 衰减量精度: 实测衰减量与标称衰减量之间的偏差。通常要求偏差在 ±0.5 dB 至 ±2 dB 范围内(具体取决于开关等级和应用要求)。
4. 重复性: 在相同条件下(温度、连接、仪器设置等),多次切换开关并测量同一路径衰减量的一致性。
5. 温度稳定性: 衰减量随环境温度变化的漂移量。需要在规定的温度范围内(如 -40°C 至 +85°C)进行测试。
6. 插入损耗(直通路径): 开关在非衰减路径(通常为“近程”或“直通”状态)下的信号损耗。虽然这不直接是衰减量,但作为开关整体性能的一部分常一并测试。
7. 端口驻波比: 开关各端口(输入、输出、直通端、衰减端)的电压驻波比,反映端口匹配情况,间接影响衰减量测量的准确性。
进行远近程开关衰减量检测需要依赖高精度的射频微波测试设备:
1. 矢量网络分析仪: 这是最核心的仪器。现代VNA(如Keysight PNA, PNA-X系列, R&S ZNA/ZNB系列)能够精确测量S参数(尤其是S21传输系数),直接计算出衰减量(衰减量 = -|S21| dB)。其优势在于高精度、宽频带、可进行时域门控消除夹具影响,并能同时测量驻波比。
2. 信号源 + 功率计: 经典方法。使用高稳定的信号源(如Keysight PSG, R&S SMA系列)产生射频信号,经过开关衰减路径后,用高精度功率计(如Keysight P系列功率计, Boonton峰值功率计)测量输入功率(Pin)和输出功率(Pout),衰减量 = Pin (dBm) - Pout (dBm)。此方法直观,但对信号源功率稳定度和功率计精度要求极高。
3. 频谱分析仪 + 跟踪源: 部分频谱分析仪(如Keysight X系列, R&S FSW/FPS系列)内置或可外接跟踪源,可测量传输响应(类似S21),从而得到衰减量。便捷性高,但精度通常低于专用VNA。
4. 校准件: 包括开路器、短路器、负载、直通件(如3.5mm, SMA, N型),用于对测试系统(VNA或信号源-功率计系统)进行校准,消除测试电缆和连接器的影响,这是获得精确测量结果的前提。
5. 测试夹具/适配器: 用于可靠、重复地固定和连接待测开关器件。
6. 温度试验箱: 用于测试衰减量温度稳定性时,提供可控的温度环境。
常用的检测方法主要是基于矢量网络分析仪(VNA)的S参数测量法:
1. 系统校准: * 将VNA的端口连接至校准面(通常是连接待测开关的接口处)。 * 使用校准件(开路、短路、负载、直通)执行完整的双端口SOLT(或TRL等)校准。 * 校准完成后,VNA的误差模型被建立,后续测量将消除测试电缆和连接器的系统误差。
2. 连接待测开关: 将被测开关牢固、可靠地连接到已校准的测试端口上。确保连接器拧紧力矩符合规范。
3. 设置测试参数: * 设置起始频率、终止频率、扫描点数。 * 设置合适的输出功率(确保待测开关工作在线性区,避免饱和)。 * 设置中频带宽(IFBW),通常在保证测试速度的前提下选择较小的值以提高精度和动态范围。
4. 测量直通路径(S21): * 控制开关切换到“近程”或“直通”状态。 * 测量并记录S21的幅度(dB),此值即为该路径的插入损耗。
5. 测量衰减路径(S21): * 控制开关切换到“远程”或“衰减”状态。 * 测量并记录S21的幅度(dB),此值即为该路径的损耗(包含开关固有插入损耗 + 设计衰减量)。
6. 计算衰减量: 开关的标称衰减量 = [衰减路径S21 (dB)] - [直通路径S21 (dB)]。VNA通常可直接设置参考轨迹或进行数学计算(Trace Math)得到这个差值曲线。
7. 数据分析: * 在指定频点读取标称衰减量实测值。 * 观察整个频带内的衰减量平坦度。 * 在多个温度点重复测量,分析温度稳定性。
8. 重复性测试: 多次(如10次)切换开关状态,重复步骤5-6,计算衰减量测量值的标准偏差或最大值/最小值差。
9. 端口驻波比测量: 在开关各状态下,测量各端口的S11(输入反射)、S22(输出反射),VNA可直接显示或计算成驻波比。
远近程开关衰减量检测需遵循相关行业标准、国家标准、国际标准或用户技术规范,常见的包括:
1. IEC 60487 (IEEE 201): 地面无线电中继系统所用设备的测量方法。其中包含了对开关(包括切换开关)衰减、隔离度、驻波比等参数的详细测量规定。
2. MIL-STD-202: 美国军用标准,电子及电气元件试验方法。虽然涵盖范围广,但其对电气元件环境试验(含温度)和基本电气特性(如接触电阻,引申到开关性能)的测试方法有参考价值。
3. MIL-PRF-39012: 继电器、电磁式、一般规格(用于开关)。对机电开关(包括RF开关)的机械和电气性能有详细规范。
4. GB/T 12182 (中国国家标准): 射频同轴开关空白详细规范。规定了射频同轴开关(包含远近程开关)的通用要求、质量评定程序以及需要测试的参数和方法(含衰减量、驻波比、切换时间等)。
5. GB/T 11313 (中国国家标准): 射频连接器系列标准。虽然主要规范连接器,但其关于反射系数/驻波比(VSWR)的测量方法同样适用于开关端口的测试。
6. 制造商规格书: 开关制造商会提供详细的产品规格书(Datasheet),其中会明确规定其产品的衰减量标称值、精度、平坦度、测试条件(频率、温度、功率)、测试方法等具体要求。
7. 用户定制规范: 最终用户(如设备集成商)可能会根据其特定的系统需求,制定更严格或更有针对性的检测规范。
总结: 远近程开关衰减量的检测是一项精度要求高、流程规范化的测试工作。必须依靠高精度的矢量网络分析仪或等效系统,严格按照校准流程和检测方法执行,并依据相关技术标准(
证书编号:241520345370
证书编号:CNAS L22006
证书编号:ISO9001-2024001
版权所有:北京中科光析科学技术研究所京ICP备15067471号-33免责声明