什么是暗场均匀性检测？
暗场均匀性检测是光学显示领域中的关键质量检测环节，主要用于评估显示屏、光学镜头或传感器在低亮度/全黑状态下的光学性能。在液晶显示器(LCD)、有机发光二极管(OLED)面板、医疗影像设备及相机传感器等产品中，暗场均匀性直接影响图像的对比度、色彩准确性和视觉体验。当设备处于暗场状态时，任何微小的亮度不均都会表现为"漏光"现象，形成可见的亮斑或色偏，严重降低显示品质。该检测通过量化分析暗态下的亮度分布一致性，确保显示设备在低亮度场景下仍能保持卓越的视觉表现，是高端显示产品出厂前的必检项目。
检测项目
暗场均匀性检测主要包含以下核心指标：
1. 整体亮度均匀性：测量屏幕全域的最大/最小亮度比，计算亮度标准差(σ)，通常要求σ≤5%。
2. 区域对比度：划分九宫格区域，分析各区块间亮度差异，重点监测边角衰减现象。
3. 黑场亮度值：量化全黑画面下的基底亮度，高端显示器要求≤0.05nits。
4. 色度均匀性：检测CIE xy色坐标在暗场中的偏移量，Δu'v'需控制在0.005以内。
5. 缺陷识别：捕捉亮点/坏点、云纹(mura)、背光泄漏等局部异常。
检测仪器
专业检测需配置以下核心设备：
1. 成像亮度色度计：如柯尼卡美能达CA-310或瑞淀ProMetric系列，配备高灵敏度CCD，可同步采集亮度/色度数据。
2. 暗室环境系统：满足ISO 3664标准的全黑检测室（照度≤0.1lux），配备温湿度监控。
3. 电动定位平台：精密导轨系统实现多角度自动扫描，定位精度达±0.01mm。
4. 信号发生器：输出标准测试图案（如全黑场、5%灰阶）。
5. 分析软件：如Radiance或TrueTest，支持自动生成均匀性热力图及缺陷标记。
检测方法
标准检测流程包含以下关键步骤：
1. 预处理：设备在标准环境(23±2℃, 50%RH)下稳定1小时，驱动至全黑状态。
2. 基准校准：使用标准亮度源校正测量设备，设定采样分辨率（通常≥100点/m²）。
3. 数据采集：通过自动扫描获取全域亮度/色度矩阵，高精度设备每秒可采集10,000+数据点。
4. 均匀性计算：按公式Uniformity=(L_min/L_max)×100%计算整体均匀性，九宫格区域采用权重算法。
5. 缺陷分析：软件通过阈值算法识别异常点（如亮度＞0.1nits即判为漏光点）。
6. 动态测试：结合0-10%灰阶渐变，捕捉低灰阶过渡均匀性。
检测标准
主要依据以下国际及行业标准：
1. 国际标准：ISO 9241-307（人机交互显示要求）、IEC 62341-6-1（OLED测试方法）。
2. 行业规范：VESA DisplayHDR 400/600/1000认证（要求暗场均匀性＞85%）、JDMS-08医疗显示标准。
3. 企业标准：苹果Tier1供应商要求ΔE＜1.5，三星OLED面板标准要求黑场亮度≤0.03nits。
4. 量化指标：消费级显示器需达80%均匀性，专业级＞90%；坏点按ISO 13406-2 Class II标准（每百万像素≤2个缺陷）。
5. 测试条件：严格遵循SMPTE RP 431-2规定的2°观测角，测量距离为屏幕高度的3倍。
CMA认证
检验检测机构资质认定证书
证书编号：241520345370
有效期至：2030年4月15日
CNAS认可
实验室认可证书
证书编号：CNAS L22006
有效期至：2030年12月1日
ISO认证
质量管理体系认证证书
证书编号：ISO9001-2024001
有效期至：2027年12月31日
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