电子工业用气体 氮检测
1对1客服专属服务,免费制定检测方案,15分钟极速响应
发布时间:2025-04-25 01:09:01 更新时间:2025-06-09 19:12:16
点击:0
作者:中科光析科学技术研究所检测中心
1对1客服专属服务,免费制定检测方案,15分钟极速响应
发布时间:2025-04-25 01:09:01 更新时间:2025-06-09 19:12:16
点击:0
作者:中科光析科学技术研究所检测中心
在电子工业中,高纯度气体(如氮气)是半导体、液晶面板、太阳能电池等精密制造过程中不可或缺的原料。氮气因其化学惰性和高纯度特性,广泛应用于工艺保护、设备清洗、气氛控制等场景。然而,气体中的微量杂质(如氧气、水分、颗粒物等)可能导致产品良率下降或设备腐蚀,因此对氮气的质量控制至关重要。通过系统的检测项目、专业的仪器和标准化的方法,可以确保气体符合电子工业的严苛要求,保障生产工艺的稳定性和产品的可靠性。
电子工业用氮气的检测主要包括以下项目: 1. 纯度检测:氮气纯度需达到99.999%以上(5N级或更高),需检测主要成分含量及残留杂质。 2. 水分(H2O)含量:湿度需低于1ppm,避免引起氧化或腐蚀。 3. 氧气(O2)含量:通常要求O2浓度小于0.1ppm。 4. 碳氢化合物(THC):总烃类杂质需在0.1ppm以下。 5. 颗粒物含量:采用粒径≥0.1μm的颗粒计数,确保无污染风险。 6. 其他痕量杂质:如一氧化碳(CO)、二氧化碳(CO2)及金属离子等。
为确保检测精度,需使用专业仪器: - 气相色谱仪(GC):用于分析氮气中O2、CO、CO2等气体杂质。 - 露点仪:测定氮气中的水分含量,灵敏度可达-80℃露点。 - 质谱仪(MS):高精度检测痕量杂质及气体成分比例。 - 激光粒子计数器:实时监控颗粒物数量及分布。 - 化学发光检测器(CLD):专用于超低浓度O2的检测。
常用检测方法包括: 1. 直接采样法:通过减压阀和管线直接采集气体样品,适用于在线监测。 2. 化学吸收法:利用特定试剂吸收杂质,通过体积变化计算含量(如O2检测)。 3. 光谱分析法:红外光谱(IR)或紫外光谱(UV)用于快速检测特定成分。 4. 电化学传感器法:适用于实时监测H2O和O2的浓度变化。 5. 惰性气体置换法:通过惰性气体置换系统避免样品污染,提升检测准确性。
电子工业用氮气的检测需遵循国际及行业标准,例如: - SEMI C3.41:半导体行业气体纯度标准,规定氮气的杂质限值。 - GB/T 8979-2008:中国国家标准《纯氮、高纯氮和超纯氮》,明确检测方法及指标。 - ISO 8573-1:2010:压缩空气及气体的颗粒物和湿度分级标准。 - ASTM D6350:美国材料与试验协会的气体色谱分析方法。 - JIS K 1107:日本工业标准中关于高纯氮的技术规范。
通过以上检测体系,可全面评估氮气的质量,确保其满足电子制造的高端需求,同时为工艺优化和故障排查提供数据支持。
证书编号:241520345370
证书编号:CNAS L22006
证书编号:ISO9001-2024001
版权所有:北京中科光析科学技术研究所京ICP备15067471号-33免责声明