氢氧焰化学气相沉积法石英玻璃碇检测
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发布时间:2025-04-27 11:15:51 更新时间:2025-05-27 21:57:40
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作者:中科光析科学技术研究所检测中心
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氢氧焰化学气相沉积法(HFCVD)是制备高纯度石英玻璃碇的关键工艺之一,广泛应用于光学、半导体和精密仪器领域。石英玻璃碇的性能直接决定了其后续加工产品的质量,因此对其物理、化学及结构特性的检测至关重要。通过科学系统的检测手段,可以确保材料满足光学透过率、热稳定性、均匀性等核心指标,同时避免因杂质或缺陷导致的性能劣化。
针对HFCVD法制备的石英玻璃碇,主要检测项目包括:
1. 光学性能:紫外-可见光透过率、折射率均匀性;
2. 化学组成:羟基(OH⁻)含量、金属杂质浓度(如Fe、Cu、Na等);
3. 物理特性:密度、热膨胀系数、气泡及缺陷分布;
4. 结构特性:微观形貌、晶相结构、表面粗糙度。
其中羟基含量控制是HFCVD工艺的关键,直接影响材料在高温应用中的稳定性。
检测过程需依托专业仪器:
- 紫外-可见分光光度计(波长范围190-2500nm)
- 傅里叶变换红外光谱仪(FTIR,检测羟基含量)
- 电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS,痕量元素分析)
- 扫描电子显微镜(SEM,微观结构表征)
- 激光干涉仪(折射率均匀性测试)
- 热机械分析仪(TMA,热膨胀系数测量)
检测流程遵循国家标准与行业规范:
1. 光学性能检测:依据GB/T 7962.1-2010,采用双光束分光光度法测定透过率;
2. 羟基含量测定:按ASTM E1252标准,通过红外光谱在3580cm⁻¹处吸收峰强度计算;
3. 元素分析:参照ISO 17294-2,使用ICP-MS进行ppb级杂质检测;
4. 结构缺陷检测:采用JIS R3101标准的暗场显微镜观察法,配合图像分析软件统计缺陷密度。
主要执行标准包括:
- GB/T 7897-2008《石英玻璃碇技术要求》
- ISO 10109-2:2022光学材料测试国际标准
- SEMI C3.8半导体级石英材料规范
检测数据需满足:羟基含量≤5ppm、紫外透过率(200nm)≥85%、折射率不均匀性<5×10⁻⁶、气泡直径≤0.1mm且密度<3个/cm³。
证书编号:241520345370
证书编号:CNAS L22006
证书编号:ISO9001-2024001
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