屏蔽袋检测
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发布时间:2025-03-31 09:50:09 更新时间:2025-03-30 09:50:20
点击:0
作者:中科光析科学技术研究所检测中心

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作者:中科光析科学技术研究所检测中心
屏蔽袋(电磁屏蔽袋)用于保护敏感电子元件免受电磁干扰(EMI)和静电放电(ESD)的影响,需验证其屏蔽效能、机械强度、环境适应性等性能。
检测项 | 方法及工具 | 合格标准 |
---|---|---|
屏蔽效能(dB) | 法兰同轴测试法(30MHz-1.5GHz) | ≥60dB(高频段) |
表面电阻(Ω/sq) | 四探针电阻测试仪 | ≤10⁶Ω/sq |
静电衰减时间(s) | 静电衰减测试仪(±1kV) | ≤2.0s |
检测项 | 方法及工具 | 合格标准 |
---|---|---|
拉伸强度(N/15mm) | 万能材料试验机 | ≥50N/15mm |
撕裂强度(N) | 埃莱门多夫撕裂仪 | ≥5.0N |
密封强度(N/15mm) | 热封强度测试仪 | ≥30N/15mm |
检测项 | 方法及工具 | 合格标准 |
---|---|---|
高低温循环 | -40℃~85℃,10次循环 | 屏蔽效能变化≤10% |
湿热老化 | 85℃/85%RH,240h | 外观无异常 |
盐雾试验 | 5%NaCl,48h | 屏蔽效能变化≤15% |
设备名称 | 技术参数 | 示例型号 |
---|---|---|
屏蔽效能测试系统 | 频率范围:30MHz-1.5GHz | Keysight N5222B |
表面电阻测试仪 | 测量范围:10³-10¹²Ω | Trek 152-1 |
万能材料试验机 | 量程:0-500N | Instron 3365 |
环境试验箱 | 温度范围:-70℃~150℃ | ESPEC PL-3 |
问题现象 | 可能原因 | 解决方案 |
---|---|---|
屏蔽效能不达标 | 金属镀层不均匀 | 优化镀层工艺参数 |
静电衰减时间过长 | 抗静电剂添加不足 | 增加抗静电剂比例 |
热封强度低 | 热封温度不当 | 调整热封温度和时间 |
盐雾后腐蚀 | 防护层失效 | 增加抗氧化处理 |
国内认证:
国际认证:
检测报告要求:
注:本检测规范适用于各类电磁屏蔽袋产品,包括金属化薄膜屏蔽袋、镀铝屏蔽袋、多层复合屏蔽袋等。检测前需确保样品在标准环境(23±2℃,50±5%RH)中调节24小时以上。
证书编号:241520345370
证书编号:CNAS L22006
证书编号:ISO9001-2024001
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