晶片衬底检测

　　晶片衬底检测去哪里做?中化所检测实验室可对各类晶片衬底检测，出具第三方晶片衬底检测报告。

样品类型

　　硅片(Silicon Wafers)，锑化镓(GaSb Wafers)，磷化铟(InP Wafers)，锗(Ge Wafers)，砷化铟(InAs Wafers)，锑化铟(InSb Wafers)，钛酸锶(SrTiO3)，AXT砷化镓(GaAs Wafers)等。

检测指标

　　质量检测等。

检测标准

　　GB/T 24578-2015硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法

　　GB/T 26071-2018太阳能电池用硅单晶片

　　T/IAWBS 013-2019半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法

　　YS/T 679-2018非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法

中化所检测特色

　　1、中化所是集体所有制检验中心，实验室研发及质量检验时间短,花费低,实验方案完备，出具的检验报告科学、公正、准确。

　　2、中化所国内多所实验室分支，支持国内上门取样/寄样检测!

　　3、实验精确度高中化所具备认可的科研成果检测资格，检验报告可以通过国内二维码防伪系统查询真伪。

　　4、中化所具有一流的检测仪器,各种检测仪器及设备300百多台套。

　　5、中化所资质中化所具有计量认证(CMA)，资质齐全，有保障，出具规范的检验报告

　　6、支持36种语言编写MSDS服务。

　　7、所有实验都签订保密协议，注重保护客户隐私。

　　8、中化所与众多企业，高校，科研院所等保持合作关系，以科学研究为己任，不断提高自身检测水平，致力于搭建覆盖全国，服务全球的检测分析平台。

晶片衬底测定流程

　　1、邮寄寄样或上门取样

　　2、工程师初步检测

　　3、根据试验复杂程度及样品数量报价

　　4、双方确定签订保密协议，实验室开始实验

　　5、完成实验：检测周期一般在7-15个工作日(部分特殊试验周期会延长)，可咨询工程师

　　6、出具检验报告，后期服务。