电磁屏蔽室与半电波暗室检测概述

电磁屏蔽室和半电波暗室是现代电子设备研发、电磁兼容性（EMC）测试、产品认证及科学研究中不可或缺的关键设施。电磁屏蔽室的主要功能是隔离外部电磁环境干扰，提供纯净的测试背景；而半电波暗室则在屏蔽室基础上内壁铺设吸波材料，模拟自由空间环境，用于辐射发射和辐射抗扰度测试。为确保这些设施的性能稳定可靠，满足严格的测试要求，定期进行专业、全面的检测至关重要。检测的核心目标在于验证屏蔽效能是否符合设计指标，确保场地性能满足国际/国家标准要求，从而保障测试结果的准确性与可信度，为产品质量和市场准入奠定坚实基础。因此，建立科学、规范的检测流程至关重要。

核心检测项目

针对电磁屏蔽室和半电波暗室，关键的检测项目聚焦于其核心性能指标：

• 电磁屏蔽效能： 这是屏蔽室的核心指标。检测需覆盖从低频（如DC, 50/60Hz工频）到高频（如10GHz或更高）的宽频段范围，评估屏蔽体对电场、平面波和磁场的衰减能力，检测门、通风波导、滤波器、接口板等关键部位的屏蔽性能。

• 归一化场地衰减： 这是评估半电波暗室电波传播特性的核心指标。检测在特定频点（如CISPR 16-1-4规定的16或更多频点）上，实际测量的场地衰减与理想自由空间场地衰减理论值之间的偏差，需满足标准（如±4dB或±6dB）要求。

• 场地电压驻波比： 主要在半电波暗室中检测，评估吸波材料对入射波的反射性能以及场地反射的均匀性，直接影响辐射测试的精度。

• 背景噪声： 在屏蔽室和暗室内，测量关闭EUT（受试设备）情况下本底的电磁噪声水平，确保其远低于EUT的发射限值或测试要求的阈值。

• 场均匀性： 对于辐射抗扰度测试用暗室（如3m法，10m法），需在规定的测试区域（假想的垂直平面）上检测场强的均匀性，以满足标准（如IEC 61000-4-3）规定的公差范围。

• 屏蔽体完整性： 检查屏蔽壳体、接缝、焊接点、门密封接触条等是否存在物理损伤、锈蚀或老化，确保结构的完整性和密封性。

主要检测仪器

完成上述检测项目需要依赖专业、精密的仪器设备：

• 信号源/射频合成器： 产生所需频率和功率的测试信号。

• 频谱分析仪/接收机： 核心测量设备，用于测量信号强度、噪声水平、场地衰减等。需具备足够的动态范围、频率覆盖范围和测量精度，需符合CISPR 16-1-1等标准要求。

• 发射天线： 用于产生测试场强的天线，类型多样（如双锥天线、对数周期天线、喇叭天线、环天线等），需根据测试频率和项目选择。

• 接收天线/探头： 用于测量场强的天线或探头（如电场探头、磁场探头），其校准系数至关重要。

• 功率放大器： 在辐射抗扰度场均匀性测试或大信号屏蔽效能测试中，用于放大信号源输出，驱动发射天线产生足够强的场强。

• 网络分析仪： 可用于精确测量屏蔽效能（替代法）以及某些特定接口的传输损耗。

• 低频磁场源及接收探头： 专门用于低频磁场屏蔽效能测试。

• 场强计/场强探头： 用于辐射抗扰度测试中的场强监测和场均匀性测量。

• 衰减器、电缆、转接头等辅助设备： 构成完整测试链路。

核心检测方法

检测方法需严格遵循相关标准：

• 屏蔽效能检测：

  • 直接法（大信号法）： 在屏蔽室外由信号源和发射天线产生强场，在屏蔽室内用接收天线/探头和接收机测量穿透场强。适用于较高频段。

  • 替代法（小信号法）： 利用网络分析仪测量信号通过屏蔽壁上的同轴接口（如穿心电容）的传输损耗（S21参数），推算屏蔽效能。适用于较高频段点频测量。

  • 低频磁场法： 使用标准环状磁场源置于屏蔽壁外侧，在壁内侧用磁环探头或小环接收天线测量磁场强度衰减。用于评估低频（如DC-100kHz）屏蔽性能。

• 归一化场地衰减检测： 按照CISPR 16-1-4或ANSI C63.4等标准规定的方法布置发射天线和接收天线（水平和垂直极化），在特定高度和位置扫描测量。实测场地衰减需结合天线系数进行归一化计算，并与理论值比较。

• 场地电压驻波比检测： 固定发射天线位置（通常在转台中心），在接收天线的多个位置（通常在静区边界）测量场强值，计算最大值与最小值的比值（即SVSWR）。

• 场均匀性检测： 在规定的测试平面上（如1.5m x 1.5m），按标准网格点（如16点）布置场强探头。在特定频点施加场强，记录每个点的场强值，计算所有点中75%的点的场强相对于参考值（通常是中心点或平均值）的偏差是否在标准规定的公差（如0~ +6dB）内。

• 背景噪声检测： 在暗室/屏蔽室关闭且无EUT情况下，使用接收天线和接收机/频谱仪扫描整个测试频段，记录本底噪声频谱。

关键检测标准

检测活动必须依据国际、国家或行业标准进行，确保结果的可比性和权威性：

• 电磁屏蔽效能：

  • GB/T 12190-2006 《电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法》 (中国标准)
  • MIL-STD-285 (历史军用标准，仍有参考价值)
  • IEEE Std 299.1™-2013 《IEEE Standard Method for Measuring the Shielding Effectiveness of Enclosures and Boxes Having all Dimensions between 0.1 m and 2 m》
  • IEEE Std 299™-2006 《IEEE Standard Method for Measuring the Effectiveness of Electromagnetic Shielding Enclosures》 (针对大型屏蔽室)
  • ASTM ES-7 (美国材料试验协会标准)

• 归一化场地衰减：

  • CISPR 16-1-4:2019+AMD1:2020 《Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 1-4: Radio disturbance and immunity measuring apparatus - Antennas and test sites for radiated disturbance measurements》 (国际标准)
  • ANSI C63.4-2014 《American National Standard for Methods of Measurement of Radio-Noise Emissions from Low-Voltage Electrical and Electronic Equipment in the Range of 9 kHz to 40 GHz》 (美国标准)
  • GB 9254-2008 《信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法》(等同采用CISPR 22，场地要求参考CISPR 16-1-4) (中国强制标准)
  • GB/T 6113.104-2016 《无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰测量用天线和试验场地》 (等同采用CISPR 16-1-4) (中国推荐标准)

    检测机构资质证书

    

    CMA认证

    检验检测机构资质认定证书

    证书编号：241520345370

    有效期至：2030年4月15日

    

    CNAS认可

    实验室认可证书

    证书编号：CNAS L22006

    有效期至：2030年12月1日

    

    ISO认证

    质量管理体系认证证书

    证书编号：ISO9001-2024001

    有效期至：2027年12月31日