光照和高温引起的降解（LETID）检测概述

光照和高温引起的降解（Light and Elevated Temperature Induced Degradation, LETID）是一种在光伏（太阳能）组件中常见的性能退化现象，尤其影响晶体硅太阳能电池。当太阳能电池长时间暴露在高强度光照（如太阳辐射）和高温环境（通常高于60°C）下时，电池内部的缺陷会被激活，导致载流子复合率增加，从而显著降低电池的电力输出效率、开路电压和整体性能。这种现象不仅影响单个电池单元，还会导致整个光伏系统的功率损失，降低其经济性和可靠性。在全球光伏产业快速发展的背景下，LETID检测对于确保组件的长期稳定性、延长使用寿命和降低成本至关重要。通过系统化的检测，可以识别并缓解潜在退化风险，提高太阳能技术的市场竞争力。

检测项目

在LETID检测中，核心项目聚焦于电性能和材料特性的变化。关键项目包括：电性能参数（如最大功率点Pmax、开路电压Voc、短路电流Isc、填充因子FF和效率η的退化率）；IV曲线特性（分析电流-电压关系的偏移）；量子效率（QE）谱的变化（评估不同波长光照下的响应能力）；以及视觉或微观检查（如电致发光EL成像，用于可视化电池内部的缺陷分布）。这些项目共同评估LETID对光伏组件性能的量化影响，确保早期识别退化风险。

检测仪器

LETID检测依赖专业仪器模拟真实环境并采集数据。主要仪器包括：太阳模拟器（提供标准AM1.5光谱，光照强度1000 W/m²，以模拟自然太阳光）；恒温箱或环境舱（精确控制温度，范围通常在50°C至85°C，用于模拟高温条件）；IV测试系统（包含源表和软件，用于测量电性能参数）；数据采集设备（如温度传感器、光照计和记录器，实时监控测试环境）。辅助设备如光谱仪（分析量子效率）和EL相机（捕捉缺陷图像）也常被使用。这些仪器确保测试的可重复性和准确性。

检测方法

LETID检测采用标准化加速老化方法，模拟长期暴露效果。核心方法包括：首先，将样品置于太阳模拟器和恒温箱中，在恒定光照（1000 W/m²）和高温（例如85°C）下进行加速老化测试，持续数百至数千小时；期间定期中断测试（如每24小时），将样品冷却至室温后，使用IV测试系统测量电性能变化；同时，通过QE和EL成像分析材料退化；最后，计算性能损失率（如Pmax的相对下降百分比）。该方法根据国际标准设计，确保快速且可靠的评估。

检测标准

LETID检测严格遵循国际和行业标准，以保证结果一致性和可比性。主要标准包括：IEC TS 62804-1（专门针对光照和温度诱导退化的测试方法，定义光照、温度条件和测试流程）；IEC 61215（地面用晶体硅光伏组件设计鉴定和定型，附录中纳入LETID测试要求）；以及ASTM E1036（标准测试方法，涵盖性能变化测量）。这些标准规定了测试环境（如温度公差±2°C）、采样频率（如每小时记录一次）、数据分析和报告格式（需包含退化曲线和置信区间）。遵守这些标准是产品认证和市场准入的关键。

检测机构资质证书

CMA认证

检验检测机构资质认定证书

证书编号：241520345370

有效期至：2030年4月15日

CNAS认可

实验室认可证书

证书编号：CNAS L22006

有效期至：2030年12月1日

ISO认证

质量管理体系认证证书

证书编号：ISO9001-2024001

有效期至：2027年12月31日

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