X射线断层扫描测量主要应用于非接触内外部无损三维几何尺寸测量、材料结构分析、缺陷检测、装配检查、逆向工程应用等。适用于塑料、橡胶、硅胶、纤维、轻金属等多种材料，面向几何计量、科研、注塑、铝压铸、电池、汽车、医疗器械、包装、电子消费品等行业领域。

内部缺陷定性定量分析

　　1.测试并验证缺陷，填充不足、缺料、杂质、气泡等对产品可靠性造成严重影响的缺陷

　　2.检测复杂电子元件内部结构、电子组装产品焊接质量、其它零部件内部结构

　　3.检测玩具、塑料零部件、复合组装零部件等的界面结合或黏合情况

问题溯源

　　1.快速分析产品内外部故障原因：损伤、破裂、不良、断裂等

　　2.配合失效分析，可靠性分析中间样品无损检测分析

检测检测流程

　　1、填写申请表：联系中析研究所工作人员确认检测标准，签订委托书;

　　2、安排寄样：将样品快递或直接送至我司实验室 ;

　　3、产品检测：实验室安排测试，出草稿报告;

　　4、确认草稿报告，发正式报告。

检测机构资质证书

CMA认证

检验检测机构资质认定证书

证书编号：241520345370

有效期至：2030年4月15日

CNAS认可

实验室认可证书

证书编号：CNAS L22006

有效期至：2030年12月1日

ISO认证

质量管理体系认证证书

证书编号：ISO9001-2024001

有效期至：2027年12月31日

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