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LeTID试验检测

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发布时间：2025-04-22 08:42:23 更新时间：2025-04-21 08:42:24

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作者：中科光析科学技术研究所检测中心

LeTID试验检测概述

LeTID（Light and Elevated Temperature Induced Degradation，光热诱导衰减）是光伏组件在高温和光照条件下发生的一种效率衰减现象，主要影响晶体硅太阳能电池的长期性能。随着光伏技术的快速发展，LeTID试验检测成为评估组件可靠性与稳定性的核心环节之一。该检测通过模拟组件在实际运行中可能遇到的高温、高光强环境，分析其电性能衰减程度，为产品质量改进提供科学依据。

检测项目

LeTID试验检测的核心项目包括：
1. 初始性能测试：记录组件在标准测试条件（STC）下的开路电压（Voc）、短路电流（Isc）、最大功率（Pmax）等参数；
2. 光热老化测试：在高温（通常60-85℃）和高光强（1-1.3倍标准光照强度）下进行持续或周期性老化试验；
3. 衰减率分析：通过多次测量对比老化前后功率衰减百分比；
4. 恢复特性评估：观察停止光照或降温后组件电性能的恢复能力。

检测仪器

完成LeTID检测需依赖以下关键设备：
- 光热老化试验箱：可精准控制光照强度、温度及湿度环境；
- IV曲线测试仪：用于测量组件的电流-电压特性曲线；
- 温度控制平台：确保测试样品均匀受热；
- 数据采集系统：实时记录电性能参数及环境变量。

检测方法

常规LeTID检测流程包括：
1. 将待测样品置于老化箱内，设置目标温度（如75℃）和光照强度（1.3倍标准辐照度）；
2. 连续或间歇性进行老化试验，持续周期通常为96-500小时；
3. 每间隔24小时取出样品冷却至25℃，进行IV特性测试；
4. 计算功率衰减率，绘制衰减-时间曲线；
5. 根据衰减稳定性和恢复能力综合评价组件抗LeTID性能。

检测标准

目前LeTID检测主要参考以下标准：
- IEC TS 63202-4：国际电工委员会发布的光热诱导衰减测试技术规范；
- GB/T 38911-2020：中国国家标准《晶体硅太阳电池组件光热诱导衰减测试方法》；
- UL 61730：针对光伏组件安全性与环境测试的行业标准，包含LeTID相关要求。

随着光伏行业的深度发展，LeTID检测技术持续优化，从单一参数测试向多因素耦合分析演进，为提升组件25年以上使用寿命提供关键技术支撑。