不带尾纤的激光二极管发射源的高度、宽度和像散检测
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发布时间:2025-04-24 15:35:46 更新时间:2025-05-13 19:28:08
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作者:中科光析科学技术研究所检测中心
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激光二极管作为光通信、激光加工和医疗设备等领域的核心器件,其发射特性的精准控制直接影响最终应用效果。不带尾纤的激光二极管(Bare Laser Diode)因直接输出光束,其发射源的高度、宽度和像散参数尤为关键。这些参数不仅决定了光束质量,还影响后续光学系统的耦合效率和性能稳定性。因此,在研发、生产及质量控制过程中,需采用系统化的检测手段对其关键参数进行严格测试。
针对不带尾纤的激光二极管发射源,核心检测项目包括:
1. 发射高度检测:测量光斑中心与封装基准面的垂直距离,直接影响光学系统对焦精度;
2. 发射宽度检测:分析快轴和慢轴方向的光束扩展特性,与光束发散角直接相关;
3. 像散检测:评估光束在传播过程中不同方向的焦点偏移,反映激光器的模式质量。
主要检测设备包括:
- 光束轮廓分析仪:配备高灵敏度CCD或CMOS传感器,可捕获微米级光斑分布;
- 高分辨率显微成像系统:用于发射高度的精确标定;
- 六轴精密位移台:实现亚微米级定位精度,用于多参数同步检测;
- 像散测量模块:含柱面透镜组和波前传感器,可定量分析像散参数。
1. 高度检测:
采用显微成像系统测量激光器基准面到光斑中心的垂直距离,通过图像处理算法提取边缘特征,结合激光干涉仪进行三维坐标校准,精度可达±1μm。
2. 宽度检测:
使用光束轮廓分析仪在特定工作电流下捕获光斑,基于ISO 11146标准计算1/e²光强处的束腰直径,需考虑热效应对测量结果的影响。
3. 像散检测:
通过柱面透镜分光系统分离快慢轴分量,利用波前传感器测量两方向相位差,结合Zernike多项式计算像散系数(ASTIG值),典型检测灵敏度达λ/50。
主要依据国际标准:
- IEC 60825-1:激光产品安全等级评估;
- ISO 13694:激光束功率密度分布测试规范;
- TIA-455-203:激光二极管参数测试标准;
- JIS C 5941:半导体激光器特性测量方法。
具体参数允差需根据应用场景制定,如光通信模块通常要求高度公差≤±3μm,像散系数≤0.15λ。
通过上述系统化检测方案,可有效确保不带尾纤激光二极管的性能一致性,为高精度光学系统集成提供可靠保障。随着微纳加工技术的进步,基于共聚焦显微和数字全息的新型检测方法正在逐步应用于该领域。
证书编号:241520345370
证书编号:CNAS L22006
证书编号:ISO9001-2024001
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