一、碳化硅（SiC）检测

1. 基础特性检测

• 外观检查：通过显微镜或图像分析仪观察颗粒颜色均匀性、形态完整性，检测团聚或破碎现象。
• 密度测定：使用比重瓶测表观密度，氦气比重计测真密度，评估材料纯度。

2. 物理性能检测

• 粒径分布：激光粒度仪或筛分法分析颗粒粒径分布，确保符合应用规格。
• 化学成分：X射线荧光光谱（XRF）和X射线衍射（XRD）检测SiC纯度及杂质（如游离碳、SiO₂）。
• 晶型分析：XRD区分3C-SiC、4H-SiC等晶型，优化材料性能。

3. 机械与热性能

• 抗拉/抗折强度：测试材料机械强度及抗弯性能。
• 热膨胀系数：评估高温稳定性。
• 断裂韧性：检测抗断裂能力。

4. 应用专项检测

• 表面粗糙度：评估磨料或半导体器件的表面质量。
• 耐腐蚀性：模拟不同环境测试化学稳定性。

二、碳化钨（WC）检测

1. 核心指标检测

• 密度：反映烧结质量，检测疏松程度。
• 硬度：采用洛氏或维氏硬度计，评估耐磨性。
• 横向断裂强度：测试材料韧性，避免脆性失效。

2. 微观结构分析

• 金相组织：通过金相显微镜观察晶粒大小、碳含量及疏松分布。
• 磁饱和与缺陷：检测磁性特性及微观缺陷（如孔隙、裂纹）。

3. 成分与工艺检测

• 化学成分：光谱分析或化学滴定法测定WC及钴粘结剂含量。
• 碳含量：红外碳硫仪精确控制化合碳比例。
• 涂层与合金性能：评估碳化钨涂层的结合强度及合金切削性能。

4. 标准化检测

• 执行标准：GB/T 40067-2021（微观组织检测）、GB/T 5242-2006（综合性能）。
• 纳米材料检测：针对纳米碳化钨粉末，采用SEM/EDS分析形貌及元素分布。

三、检测技术对比

四、检测机构服务

提供：

• 覆盖材料：纳米碳化硅、电子级SiC、WC涂层、硬质合金等。
• 检测项目：成分分析、力学性能、环境适应性、失效分析等。
• 认证支持：ISO/IEC 17025认证，国际互认检测报告。

检测机构资质证书

CMA认证

检验检测机构资质认定证书

证书编号：241520345370

有效期至：2030年4月15日

CNAS认可

实验室认可证书

证书编号：CNAS L22006

有效期至：2030年12月1日

ISO认证

质量管理体系认证证书

证书编号：ISO9001-2024001

有效期至：2027年12月31日

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