无尘布（Cleanroom Wipes）主要用于电子、医疗、光学等洁净环境中，其检测需围绕 洁净度、吸液性、抗静电性、化学残留 等核心指标展开，依据国际标准（如IEST-RP-CC004、ISO 14644）及行业规范（如SEMI E78），确保其在高精度场景下的性能与安全性。以下是系统化的检测方案与操作指南：

一、核心检测项目与标准

二、检测方法详解

1. 洁净度检测（颗粒物）

• 液体冲洗法：
  1. 将无尘布浸泡在超纯水中，超声振荡5分钟释放颗粒。
  2. 用激光颗粒计数器（如Lighthouse SOLAIR 3100）统计≥0.5μm颗粒数量。
  • 限值：Class 1洁净室要求≤100颗粒/㎡（≥0.5μm）。

2. 纤维脱落测试

• 干态振动法：
  1. 无尘布放入密闭容器，以固定频率振动10分钟。
  2. 用显微镜（100倍）统计脱落纤维数量。
  • 合格标准：干态纤维≤100条/m²（医疗级要求）。

3. 吸液性能测试

• 垂直吸液法：
  1. 将无纯水垂直滴在无尘布表面，记录完全吸收时间（吸液速率）。
  2. 称量吸液前后重量差，计算吸液量（吸液量=吸液后重量/干重）。
  • 典型值：聚酯无尘布吸液量≥300%，吸液速率≤3秒。

4. 抗静电性检测

• 表面电阻测试：
  1. 使用环形电极（ASTM D257）测量表面电阻。
  • 限值：抗静电级≤1×10¹² Ω/sq，导电级≤1×10⁶ Ω/sq。

5. 化学残留分析

• 离子残留（IC法）：
  1. 超纯水浸泡无尘布，提取液经离子色谱仪（如Thermo ICS-5000+）检测Cl⁻、SO₄²⁻等。
  • 限值：Cl⁻≤0.1μg/cm²（半导体行业）。
• 非挥发残留（NVR）：
  1. 浸泡液蒸发后称量残留物重量，计算NVR（μg/cm²）。

三、国际与行业标准限值对比

四、检测设备推荐

五、应用场景与选型建议

1. 半导体晶圆清洁：

   • 必检项：颗粒物（Class 1）、Cl⁻残留（≤0.1μg/cm²）、抗静电性（≤1×10⁹ Ω/sq）。
   • 材质：聚酯+尼龙超细纤维，边缘激光封边。

2. 医疗手术擦拭：

   • 重点检测：纤维脱落（干态≤100条/m²）、无菌性（环氧乙烷残留≤10ppm）。
   • 灭菌方式：伽马辐照（25kGy）。

3. 光学镜头清洁：

   • 增测项：NVR（≤0.01μg/cm²）、耐溶剂性（异丙醇擦拭无溶解）。

六、常见问题与解决方案

通过系统化检测，可确保无尘布在高端制造领域的可靠性与洁净度。建议根据应用场景选择检测项目，并定期校准设备（如颗粒计数器每月校准一次），同时优化生产工艺（如无尘包装、洁净室封装）以降低污染风险。

检测机构资质证书

CMA认证

检验检测机构资质认定证书

证书编号：241520345370

有效期至：2030年4月15日

CNAS认可

实验室认可证书

证书编号：CNAS L22006

有效期至：2030年12月1日

ISO认证

质量管理体系认证证书

证书编号：ISO9001-2024001

有效期至：2027年12月31日

关于我们

部分仪器

合作客户