原料药的X射线衍射(XRD)检测
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发布时间:2025-03-12 15:16:36 更新时间:2025-03-11 15:17:17
点击:0
作者:中科光析科学技术研究所检测中心

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原料药的X射线衍射(XRD)检测是药物晶型分析、多晶型鉴别及质量控制的关键手段,直接关系到药物的理化性质(如溶解度、稳定性)及生物利用度。以下是基于 ICH Q6A(新原料药质量标准)、USP <941>(X射线衍射法通则) 及 EP 2.9.33(欧洲药典XRD方法) 的系统化检测方案:
参数 | 典型设置 | 标准依据 |
---|---|---|
X射线源 | Cu Kα(λ=1.5406 Å),电压40kV,电流40mA | USP <941> |
扫描范围(2θ) | 5°~50°(广角)或根据晶型特征调整 | EP 2.9.33 |
步长与时间 | 0.02°步长,0.5~2秒/步 | ICH Q2(R1) |
样品制备 | 粉末过200目筛,平整压片(无择优取向) | ISO 20203:2015 |
设备/工具 | 用途 | 推荐型号/品牌 |
---|---|---|
X射线衍射仪 | 晶体结构数据采集 | Bruker D8 Advance(Cu靶) |
样品制备套件 | 粉末研磨与装样 | McCrone Micronizing Mill |
数据分析软件 | 谱图处理与晶型匹配 | Jade 2020(MDI)、HighScore Plus |
标准物质 | 仪器校准与方法验证 | NIST 640c(硅)、LaB6(波长标定) |
参数 | USP <941> | EP 2.9.33 | ChP 2020(中国药典) |
---|---|---|---|
扫描范围 5°~40°(常规) | 5°~50°(广角) | 5°~50°(通则 0451) | |
晶型匹配要求 主峰偏差≤0.1° 2θ | 主峰偏差≤0.05° 2θ | 主峰偏差≤0.1° 2θ | |
结晶度报告 需标注方法(如基线法) | 需定量非晶相比例 | 需注明检测条件与算法 |
问题 | 可能原因 | 解决方案 |
---|---|---|
峰位偏移 | 样品制备不当(择优取向) | 重新研磨,旋转样品台消除取向 |
基线漂移 | 非晶相散射或仪器噪声 | 扣除空气散射背景,延长计数时间 |
多晶型混淆 | 晶型相似或混晶 | 结合DSC/TGA验证,提高扫描分辨率 |
强度异常 | 样品厚度不均或吸收效应 | 优化装样密度,使用薄层样品架 |
报告内容:
法规要求:
通过规范的XRD检测,可确保原料药晶型一致性,避免因晶型问题导致的药物失效或安全隐患。建议在工艺变更(如干燥条件、结晶溶剂)后增加晶型筛查频次,并建立企业内控标准(如特征峰强度比阈值)。
证书编号:241520345370
证书编号:CNAS L22006
证书编号:ISO9001-2024001
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