痕量元素分析
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发布时间:2025-03-12 17:42:19 更新时间:2025-03-11 17:45:37
点击:0
作者:中科光析科学技术研究所检测中心

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痕量元素分析(Trace Element Analysis)用于检测样品中浓度极低(通常为ppb至ppt级)的元素,广泛应用于环境监测、食品安全、材料科学及生物医学等领域。以下是基于 ISO 17025、EPA 6020B(ICP-MS法) 及 GB/T 33042-2016(重金属检测) 的系统化分析方案:
分析方法 | 检测限(典型元素) | 适用样品 | 国际标准 |
---|---|---|---|
ICP-MS | 0.01~1 ppt(Pb、As、Cd) | 水、土壤、生物组织、电子材料 | EPA 6020B、ISO 17294 |
GF-AAS | 0.1~10 ppb(Hg、Cr) | 食品、血液、土壤 | EPA 7010、GB 5009.268 |
ICP-OES | 1~100 ppb(Cu、Zn、Fe) | 金属合金、环境粉尘 | ASTM D1976、ISO 11885 |
XRF | 10~1000 ppm(重金属筛查) | 固体样品无损检测 | EPA 6200、ISO 3497 |
行业 | 检测目标 | 方法选择 | 法规限值 |
---|---|---|---|
环境监测 | 土壤中Cd、Pb(ppb级) | ICP-MS(EPA 6020B) | GB 36600-2018 |
食品安全 | 大米中总砷(无机As占比) | HPLC-ICP-MS联用 | GB 2762-2022 |
电子材料 | 高纯硅中Fe、Ni杂质(ppt级) | ICP-MS(SEMI C35) | SEMI C35-0309 |
临床医学 | 血液中Hg、Se(ppb级) | GF-AAS(CLSI C38-A2) | WHO Biomonitoring |
问题现象 | 原因分析 | 解决方案 |
---|---|---|
ICP-MS信号漂移 | 锥口堵塞或基体抑制 | 定期清洗锥体,稀释高盐样品(TDS<0.1%) |
GF-AAS背景干扰 | 分子吸收或光散射 | 塞曼背景校正,优化灰化温度(如Hg:300℃) |
XRF检测限不足 | 轻元素(Na~Cl)灵敏度低 | 使用真空/氦气模式,延长检测时间(>300s) |
样品污染 | 试剂或容器引入杂质 | 使用超纯酸(≥18.2MΩ·cm水),酸洗PTFE容器 |
设备/试剂 | 功能 | 推荐型号/品牌 |
---|---|---|
ICP-MS | 超痕量多元素分析(>75种元素) | Agilent 8900(MS/MS模式) |
微波消解仪 | 高效样品前处理 | Milestone Ethos UP |
高纯酸 | 痕量分析级硝酸、盐酸 | Sigma-Aldrich TraceSELECT® |
标准物质 | 校准与质控(NIST/ERM系列) | NIST 1643e(水)、ERM-EC680k(土壤) |
通过系统化痕量元素分析,可精准捕捉样品中微量成分,建议结合 形态分析技术(如HPLC-ICP-MS联用)区分元素价态,并针对复杂基体采用 激光剥蚀(LA-ICP-MS) 实现空间分布研究。对于合规性检测(如RoHS、REACH),需严格遵循 ISO/IEC 17025 实验室认证要求。
证书编号:241520345370
证书编号:CNAS L22006
证书编号:ISO9001-2024001
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