共模串模抗扰度测试
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发布时间:2025-03-25 09:35:13 更新时间:2025-03-24 09:37:08
点击:0
作者:中科光析科学技术研究所检测中心

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共模(Common Mode, CM)与差模(Differential Mode, DM)抗扰度测试是电磁兼容性(EMC)的核心内容,用于评估电子设备在共模(线-地)和差模(线-线)干扰下的耐受能力,确保其在复杂电磁环境中的可靠运行。依据国际标准(IEC 61000-4-6/4-5)、国家标准(GB/T 17626.6/17626.5)及行业规范(CISPR 16),测试需覆盖频率范围、注入方式、严酷度等级及性能判据等全维度指标,贯穿设计验证、预测试到认证全流程,是保障设备电磁兼容性的关键环节。
共模抗扰度测试(IEC 61000-4-6)
差模抗扰度测试(IEC 61000-4-5)
性能判据(IEC 61000-4系列)
测试类型 | 设备与配置 | 关键参数 |
---|---|---|
共模传导测试 | 信号发生器(R&S SMC100) + 耦合去耦网络(CDN) | 输出阻抗150Ω,VSWR≤1.5,校准误差±1dB |
差模浪涌测试 | 组合波发生器(EMTEST UCS 500N) | 电压波1.2/50μs,电流波8/20μs,极性正/负交替 |
辐射抗扰度测试 | 天线(双锥/对数周期) + 功率放大器(1kW) | 场强3V/m-10V/m(80MHz-1GHz),均匀域±3dB |
电流注入法(BCI) | 电流探头(FCC F-65A) + 功放(50W) | 频率1MHz-400MHz,电流0.1-1A(依据标准等级) |
测试布置与接地
校准与验证
测试执行与记录
失效分析与整改
问题 | 原因分析 | 解决方案 |
---|---|---|
共模测试中设备重启 | 电源回路共模阻抗不匹配 | 增加共模电感(10mH-100mH)或RC缓冲电路 |
浪涌测试后通信异常 | 差模路径保护不足(如TVS选型错误) | 更换高能量TVS(如SMBJ系列),增加GDT后备保护 |
辐射测试场强不达标 | 屏蔽室泄漏或天线驻波比过高 | 检查屏蔽室接缝(导电衬垫),校准天线阻抗(VSWR≤1.5) |
BCI测试电流注入不均 | 电流探头位置偏移或耦合效率低 | 固定探头距线缆10cm,使用校准夹具补偿耦合损耗 |
案例名称:工业PLC设备差模浪涌测试优化
高频与宽带化测试
智能化与自动化
新能源领域扩展
国际电工委员会(IEC)正制定《智能设备抗扰度测试指南》,新增无线充电(Qi标准)共模干扰测试与碳化硅(SiC)器件高频噪声抑制要求,预计2025年发布,推动测试技术向高集成、高频化升级。
通过系统性测试与设计优化,共模与差模抗扰度能力可显著提升,为工业、汽车及消费电子领域提供高可靠性的EMC解决方案。
证书编号:241520345370
证书编号:CNAS L22006
证书编号:ISO9001-2024001
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