高纯石英砂检测
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发布时间:2025-05-10 13:17:51 更新时间:2025-05-09 15:24:28
点击:0
作者:中科光析科学技术研究所检测中心
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高纯石英砂作为战略性新兴材料,在半导体、光伏、光纤通信、精密光学等高新技术领域具有不可替代的重要作用。其纯度直接决定了终端产品的性能和可靠性。随着我国电子信息产业的快速发展,对4N级(99.99%)及以上高纯石英砂的需求量呈指数级增长。高纯石英砂检测是确保原料质量的关键环节,涉及从原料筛选到成品检验的全过程质量控制。通过系统的检测分析,可以准确评估石英砂的化学纯度、物理性能等关键指标,为后续的深加工和应用提供可靠依据。特别是在半导体级硅材料制备中,微量杂质元素可能导致晶圆缺陷,因此对石英砂的检测要求极为严格。
高纯石英砂的主要检测项目包括:1) 化学成分分析:检测SiO2主含量及Fe2O3、Al2O3、CaO、MgO、Na2O、K2O等杂质元素含量;2) 物理性能检测:粒度分布、白度、密度、烧失量等;3) 特殊项目检测:包裹体含量、气液包裹体特征、放射性元素含量等。检测范围应覆盖原料砂、中间产品和最终成品,重点关注5μm以下超细颗粒的含量控制,以及B、P等影响半导体性能的特定杂质元素。
高纯石英砂检测需要配备先进的仪器设备:1) 电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)用于痕量元素分析,检测限可达ppb级;2) X射线荧光光谱仪(XRF)用于主量元素快速分析;3) 原子吸收光谱仪(AAS)测定特定金属元素;4) 激光粒度分析仪用于粒度分布测试;5) 紫外-可见分光光度计测定色度;6) 高温电阻炉用于烧失量测定;7) 扫描电子显微镜(SEM)结合能谱仪(EDS)用于微观形貌和元素分布分析。
标准检测流程包括:1) 样品制备:四分法缩分后研磨至200目,采用王水-HF混合酸消解;2) 化学分析:ICP-MS测定时采用内标法校正基体效应,XRF分析时需制作标准曲线;3) 物理性能测试:粒度分析采用湿法分散,白度测试使用标准白板校准;4) 数据处理:采用标准物质进行质量控制,结果取三次平行测定平均值。关键环节需在超净实验室进行,避免环境沾污。对于半导体级石英砂,还需增加低温红外光谱法测定羟基含量等特殊检测项目。
高纯石英砂检测主要依据以下标准:1) GB/T 32649-2016《高纯石英砂》;2) SEMI MF172-1109《半导体用石英砂标准规范》;3) ASTM E1210-10《石英砂化学分析方法》;4) JIS R8901-2008《高纯度石英砂试验方法》;5) ISO 15544:2005《石英原料中微量元素测定》。对于光伏级石英砂,还需符合IEC 61215标准中对原材料纯度的特殊要求。检测实验室应通过ISO/IEC 17025认证,确保检测结果的国际互认性。
检测结果评判需根据产品等级区分:1) 光伏级:SiO2≥99.95%,Fe2O3≤50ppm,Al2O3≤200ppm;2) 电子级:SiO2≥99.99%,B≤0.5ppm,P≤1ppm;3) 光纤级:OH含量≤5ppm,过渡金属总量≤1ppm。物理指标方面,要求-200目含量≥95%,白度≥85%,烧失量≤0.5%。对于超标样品,需结合元素赋存状态分析判断可加工性。评判时还应考虑各杂质元素的协同效应,特别是碱金属元素的综合影响。最终质量判定应以最严格的下游应用标准为准。
证书编号:241520345370
证书编号:CNAS L22006
证书编号:ISO9001-2024001
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