ICP-MS
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发布时间:2025-04-15 17:33:20 更新时间:2025-04-14 17:34:36
点击:1218
作者:中科光析科学技术研究所检测中心

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电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)作为现代痕量元素分析的金标准技术,凭借其超低的检测限、宽广的线性范围以及多元素同时分析能力,在众多领域发挥着不可替代的作用。其核心优势在于将高温等离子体的高效电离特性与质谱的高灵敏度、高分辨率检测相结合,实现对样品中ppq(万亿分之一)级至ppm(百万分之一)浓度元素的精准测定。以下将详细解析其核心检测项目及应用场景。
在环境监测领域,ICP-MS是追踪重金属污染路径的核心工具。通过碰撞反应池技术(CRC)可有效消除ArCl+对75As测定的干扰,实现环境水体中0.01 μg/L的砷形态分析。土壤消解液中的镉同位素比值(如114Cd/111Cd)测定可精确到0.05%,用于污染源指纹识别。大气颗粒物样品经微波消解后,可同时测定Pb、Hg、Cr等8种重金属元素,检出限低至0.003 ng/m³。国际原子能机构(IAEA)采用ICP-MS进行北极冰芯中210Pb的半衰期测定,分辨率达到±1.5年,为冰川年代学研究提供关键数据。
食品中重金属检测严格遵循JECFA标准,ICP-MS联用激光剥蚀(LA-ICP-MS)可直接测定大米颗粒中甲基汞的空间分布,横向分辨率达10 μm。药物残留检测采用动态反应池模式,使用NH3反应气消除40Ar35Cl+对75As的干扰,使抗癌药中铂族元素(Pt,Os,Ru)的回收率提升至98.2±2.3%。生物样品经四级杆-飞行时间质谱(Q-TOF)检测,可解析血清中Se-Met与SeCys2的形态差异,质荷比偏差小于2 ppm,为硒营养学研究提供分子层面数据。
高纯硅材料分析中,ICP-MS-MS系统通过质量转移法消除Si基体干扰,使B、P等掺杂元素的检测限达到0.01 ppb。半导体行业采用微流控芯片与ICP-MS联用技术,实现晶圆表面Fe、Ni、Cu等23种金属污染物的原位检测,采样体积仅需5 μL。核燃料棒中的U-235丰度测定精度达到0.002%,同位素比值测量使用多接收器(MC-ICP-MS),内部精度优于0.005%。稀土元素分离分析中,高分辨模式(m/Δm=10,000)可完全分离155Gd与158Gd的质谱峰,氧化物产率(CeO+/Ce+)控制在1.2%以下。
单细胞分析采用微滴进样系统,每个细胞消耗体积0.3 nL,实现HeLa细胞中Zn、Cu的绝对定量(RSD<8%)。金属蛋白研究中,SEC-ICP-MS联用系统在3分钟内完成转铁蛋白与Cd-MT的分子量分离,分子量测定误差<5%。同位素标记示踪实验使用富集67Zn(丰度92.3%)跟踪肠道吸收效率,同位素比值测定精度达0.03%。脑脊液样品经稀释直接进样,采用内标校正法(Re、Rh、Bi)可使Al的定量下限延伸至0.05 ng/mL,满足阿尔茨海默病生物标志物研究需求。
随着飞行时间质谱(TOF-MS)与激光烧蚀(LA)等联用技术的发展,ICP-MS的空间分辨率已突破亚微米级,元素成像速度达到500像素/秒。三重四极杆系统(ICP-QQQ)通过质量转移模式,使硒的检测背景等效浓度降低2个数量级。未来,ICP-MS将与人工智能深度结合,实现复杂基体样品中500+元素的自动方法开发,检测通量提升10倍的同时,将单元素分析成本降低至0.5美元以下,推动元素分析进入智能化、超高通量新时代。
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