材料检测
X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用,是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手段之一,各种与X射线荧光光谱相关的分析技术,如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等,在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用
IPC-OES分析是指电感耦合等离子体发射光谱仪,可用于地质、环保、化工、生物、医药、食物、冶金、农业等方面样品中70多种金属元素和部分非金属元素的定性、定量分析。 检测范围 1)材料类检测:主要包括传统金属材料以及新型材料的成分检测。 2)环境与安全类
电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES),是以电感耦合等离子矩为激发光源的光谱分析方法,具有准确度高和精密度高、检出限低、测定快速、线性范围宽、可同时测定多种元素等优点 检测范围 液体试样(包括经化学处理能转变成溶液的固体试样)中金属元素和部分
原子吸收光谱法(AAS),也称作原子吸收分光光度法(AAS),是基于蒸气相中待测元素的基态原子对其共振辐射的吸收强度来测定试样中该元素含量的一种仪器分析方法。 检测范围 原子吸收光谱分析法主要用于金属元素的测定,已广泛应用于矿物、金属、陶瓷、水泥、化
电子探针X射线显微分析(简称电子探针显微分析)(Electron Probe Microanalysis,简称EPMA)是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析,它特别适用于分析试样中微小区域的化学成分,因而是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有用的分析方法。 检测范围 1、
sims分析去哪里做?利用D-SIMS可以快速了解产品中异物成分、对微量杂质进行全元素分析、对于多层结构进行深度分析。速度快、结果准、效率高。 检测范围 提供位于固体样品表面上的非常小体积的元素和同位素分析。 检测标准 5ASTM E1438-2011用次级离子质谱法(S
ICP-AES分析去哪里做?电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES),是以电感耦合等离子矩为激发光源的光谱分析方法,具有准确度高和精密度高、检出限低、测定快速、线性范围宽、可同时测定多种元素等优点 检测范围 环境样品及岩石、矿物、金属等样品 检测标准
二次离子质谱分析去哪里做?通过二次离子质谱的深度剖析来分析材料薄膜结构是一种独特的分析手段,尤其是对于分析不同薄层中的材料,以及相邻两层之间材料的相互影响。 检测范围 通过质谱图可以用来获取样品表面的分子、元素及同位素的信息,可以探测化学元素
俄歇电子能谱分析去哪里做?俄歇电子能谱分析仪(AES)的分析信号为俄歇电子,俄歇电子能量具有特征值,是材料表面分析的重要工具之一。 检测范围 表面元素的定性分析、定量分析和化学状态分析。 检测标准 1GB/T 21006-2007表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄
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