光通量结温特性曲线检测
1对1客服专属服务,免费制定检测方案,15分钟极速响应
发布时间:2025-04-25 11:03:25 更新时间:2025-05-27 21:29:37
点击:0
作者:中科光析科学技术研究所检测中心
1对1客服专属服务,免费制定检测方案,15分钟极速响应
发布时间:2025-04-25 11:03:25 更新时间:2025-05-27 21:29:37
点击:0
作者:中科光析科学技术研究所检测中心
光通量结温特性曲线检测是评估半导体发光器件(如LED)性能稳定性的核心指标之一。随着结温升高,器件的光通量、发光效率和寿命均可能发生显著变化。通过检测光通量与结温之间的动态关系曲线,可以揭示器件在不同工作温度下的光衰特性、热管理能力以及可靠性表现。这一检测对优化器件设计、改进散热方案以及提升产品品质具有重要指导意义,尤其在照明、显示和光通信等应用领域,已成为产品研发和出厂检验的关键环节。
光通量结温特性曲线检测主要包含以下核心项目:
1. 光通量随结温变化的动态数据采集
2. 结温的精确测量与温度控制
3. 正向电压与结温的对应关系分析
4. 光效衰减趋势的数学建模
5. 最大允许工作温度点的确定
完成该检测需配备专业设备组合:
积分球系统:用于高精度光通量测量,需配备温度补偿功能
温度可控测试箱:温度调节范围通常覆盖-40℃至150℃
热电偶/红外热像仪:实现结温的非接触式测量
光谱辐射计:监测光谱特性随温度的变化
数据采集系统:同步记录温度与光通量数据,采样频率需≥10Hz
检测按以下标准化流程进行:
1. 温度环境设定:采用阶梯升温法或连续升温法,温度梯度通常设置为5℃/step
2. 热稳定处理:每个温度点需保持10-15分钟至热平衡
3. 同步测量:使用积分球测量光通量,同步采集结温数据
4. 电压补偿:根据正向电压法计算实际结温值
5. 曲线拟合:采用多项式回归或指数衰减模型进行数据分析
该检测需符合以下国际/国内标准:
IES LM-80:规定LED器件流明维持率的测试方法
IEC 62612:自镇流LED灯性能要求中的温度相关条款
GB/T 33720:LED模块热特性测量方法(中国国家标准)
JEDEC JESD51:半导体器件热测试的标准环境要求
检测报告需包含:初始光通量、Tj=25℃参考值、70%光通量维持温度点等关键参数。
证书编号:241520345370
证书编号:CNAS L22006
证书编号:ISO9001-2024001
版权所有:北京中科光析科学技术研究所京ICP备15067471号-33免责声明