芯片失效分析检测样品有哪些?中析研究所可对芯片失效分析检测,包括高频大功率晶体管等,出芯片失效分析检测报告周期短,数据准确。
开关电源芯片、光电编码器主芯片、纳米级存储器芯片、晶振芯片、高频大功率晶体管、气体传感器模块、光伏组件接线盒二极管、高压P-i-N二极管、军用芯片、光伏芯片、晶圆芯片、LED芯片
脱落失效分析、击穿失效分析、瞬态失效分析
GB/T 36613-2018发光二极管芯片点测方法
GB/T 30856-2014LED外延芯片用砷化镓衬底
GB/T 30855-2014LED外延芯片用磷化镓衬底
GB/T 28856-2012硅压阻式压力敏感芯片
检测周期短
中析研究所秉承服务优先原则,保证数据准确的基础上,尽可能缩短检测周期,让客户能够尽快获得准确高效的检测报告
数据准确
中析研究所仪器设备齐全、实验室拥有高素质技术人员、协助匹配检测项目,检测体系完善、确保了数据的准确性。
服务范围广
服务范围广、接受样品种类多、接受全国寄样检测、专门负责人跟进。
费用低
中析研究所在保证高质量高效率检测的同时,专项报价实验室,保证客户享受到行业内极具竞争力的价格优势。
报告应用广
中析研究所报告可帮助您凸显产品特性、提高产品竞争力、缩短研发周期、减少研发成本、减少退货风险等
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