HASS试验
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发布时间:2024-05-21 08:15:32 更新时间:2025-02-18 14:31:10
点击:884

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目的和作用:HASS的主要目的是提高产品的可靠性和平均无故障时间(MTBF),同时降低产品成本。
基本原理:HASS基于的原理是使用高应力水平快速激发产品的潜在缺陷,这些应力可能包括温度、湿度、振动等。
筛选剖面设计:HASS试验需要设计具体的应力剖面,这通常涉及温度循环、随机振动等,以确保覆盖产品的潜在故障模式。
典型HASS过程:一个典型的HASS过程可能包括将产品暴露在高温和振动环境下,观察其性能变化,识别故障并进行分析。
应用领域:HASS广泛应用于电子、汽车、航空航天等行业,用于提高最终产品的质量和可靠性。
与HALT的区别:虽然HASS与高加速寿命试验(HALT)有相似之处,但HASS更侧重于生产阶段的筛选,而HALT更多用于设计阶段的测试和改进。
技术特点:HASS试验具有高效率、高覆盖率和高成本效益的特点,能够在短时间内剔除大量潜在的早期故障。
PCB,芯片产品等
1) 进行预筛选,剔除可能发展为明显缺陷的隐性缺陷;
2) 进行探测筛选,找出明显缺陷;
3) 故障分析,改进措施。
GB/T 32466-2015电工电子产品加速应力试验规程 高加速应力筛选导则
证书编号:241520345370
证书编号:CNAS L22006
证书编号:ISO9001-2024001
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